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NIR streak camera C11293-02

NIR-streak-camera-C11293-02-01.jpg C11293-02 streak camera는 근적외선 영역대에서 이전보다 더 높은 감도를 자랑합니다. 근적외선 영역대에서 미세한 빛 발광 측정을 picosecond로 시간 분해능을 가능하게 하도록 하기 위해 Hamamatsu사의 고유 반도체용 photocathode(InP/InGaAs) streak tube를 채택하였습니다. 20MHz까지 가능한 sweep repetition rate으로 간단하고 효율적인 측정 환경을 제공합니다.
새로운 streak tube는 -100℃까지냉각된 photocathode로 dark current noise 최대로 저감하여,고감도 signal을 제공합니다. 해당되는 Application으로는 다양한 반도체 물질과 다양한 광원과 장치의 시간 반응을 시간 분해능으로 측정하는 곳에 적용됩니다.

Feature

· 측정파장: 1000 nm to 1650 nm · 시간 분해능: 20 ps · 다채널 측정 가능

Applications

· Quantum nanostructures · Photonic crystal research · Carbon nanotube research · Material for photovoltaics · Optical communication

Measurement example

Streak camera로 촬영한 Quantum well (MQW488Bflat)의 발광 수명

여기광원: Ti-Sapphire Laser, 파장: 923 nm, Pulse width: 2 ps, Repetition rate: 2 MHz NIR-streak-camera-C11293-02-02.jpg

Configuration

NIR-streak-camera-C11293-02-03.jpg

Specification

Type number C11293-02
Spectral response 1000 nm to 1650 nm
Sweep unit Internal
Temporal resolution <20 ps
Sweep repetition frequency 20 MHz
Sweep time 1 ns to 10 ms
Effective photocathode length 4.5 mm

Spectral response

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Dimensions

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