피코초형광 수명 측정 장치 C11200는 초고속 현상을 직접 관측할 수 있는 스트릭 카메라를 이용해 피코초 단위의 시간 분해 측정 뿐만 아니라 다파장 분광 측정을 실현한 시스템입니다. 이 시스템에서는 분광기와 스트릭 카메라를 조합해 다파장을 동시에 시간 분해 계측을 실시하는 것으로 형광 수명 뿐만 아니라, 밀리 세컨드~피코초 영역에서의 스펙트럼 변화를 추적할 수가 있습니다. 또한 포톤카운팅 방법을 이용하여 Single Photon level에서의 초고감도 검출을 실현했습니다. 측정기의 제어나 측정 조건의 설정은 전용의 소프트웨어를 이용해 제어하기 때문에 누구라도 간단하게 조작할 수 있습니다.

Features

5 ps의 고시간 분해가능을 실현

시간 분해가능 15 ps를 실현한 스트릭 카메라를 사용하고 있습니다. 디컨볼루션 처리에 의해 5 ps의 시간 분해능을 얻을 수 있습니다.

다파장 동시 계측

측정 파장을 각각 스캔하는 일 없이 설정된 파장대역의 다파장을 동시에 형광 수명 측정을 동시에 실시할 수 있기 때문에 단시간에 다파장 시간 분해 스펙트럼을 얻을 수 있습니다.

이차원 포톤카운팅법을 실현

포톤카운팅법에 따르는 초고감도와 스트릭 카메라 방식에 의한 다파장 동시 계측 기능을 실현했습니다. 파장 스캔을 각각 하는 일 없이 다파장의 형광 현상을 동시에 계측 할 수 있기 때문에 미약한 형광 현상을 종래에 없는 높은 효율로 계측 할 수 있습니다.

100,000:1이상의 다이나믹 레인지로 계측

미약한 형광을 100,000:1이상의 다이나믹 레인지로 계측 하기 때문에 여러성분의 형광 수명 해석도 높은 정확도로 측정 가능합니다.

형광 수명을 단시간에 S/N 좋게 계측

최대 20 MHz까지 가능합니다. 이 고속 반복 Sweep에 의한 적산으로, 높은 S/N 계측을 단시간에 실시할 수 있습니다.

피코초~밀리 세컨드까지의 형광 현상을 커버

Sweep 시간은 1 ns~10 ms까지 가변할 수 있어 피코초부터 밀리 세컨드까지의 광범위한 수명 측정에 대응합니다.

자외~근적외의파장역을 커버

200 nm~850 nm, 400 nm~900 nm의 파장역에 감도를 가진 스트릭 카메라가 준비되어 있습니다.

표준 광학계를 장비하고 있으므로 광학계의 조정이 용이

Appications

· 광물리, 광화학 초기 과정의 연구
· 표면, 계면등의 미시적 환경 및 동적 구조의 연구
· 고분자 박막, LB막, 액정, 증착막등의 2 차원계 분자 집합체의 동적 구조의 연구
· 생체막중에 있어서의 단백질의 회전, 병진 확산의 연구
· 여기자 다이내믹스의 연구 및 양자 사이즈 효과의 연구
· 유기 EL재료의 시간 분해 형광 및 응광스펙트럼의 평가
· 포토닉 결정의 연구
· 그 외, 모든 분야에 있어서의 형광 수명 측정에 의한 연구, 평가, 검사 등

Configuration

Software

계측화면

• 스트릭 카메라, 분광기, 지연 장치의 제어가 PC상에서 조작 가능
스트릭카메라, 분광기, 및 지연 장치 제어 윈도우가 PC에 표시되고, 시간 스케일이나 파장 선택등의 계측 파라미터의 변경을 용이하게 실시할 수가 있습니다. Auto Delay 기능의 채용에 의해, 스케일 변경 마다 각 시간 스케일에서의 타이밍 조정을 할 필요가 없습니다.
• MCP의 전압을 자동적으로 오프로 하는 Auto MCP off 기능을 채용
초과 광량 입사시에 스트릭 관이 받는 데미지의위험를 줄이기 위해, 스트릭 카메라에 과도한 광량이 입사 했을 경우 MCP의 전압을 자동적으로 오프로 하는 Auto MCP off 기능을 채용했습니다.
• 시간 프로파일, 스펙트럼을 실시간 표시
모니터 화면상에서 시간 프로파일과 스펙트럼이 리얼타임에 표시됩니다. 계측시의 시간 스케일 선택시나 해석 데이터 범위를 결정할 때에 편리한 기능입니다.

Lifetime Analysis

• 최대 5 성분까지의 다성분 해석 가능
• 복수의 데이터를 동일 화면에서 해석 가능
각각의 산출된 형광 수명값도 동일 화면상에 표시되므로 비교 해석을 용이하게 실시할 수 있습니다.
• 디컨볼루션 처리에 의해 높은 정밀도에서의 해석을 실현
디컨볼루션 처리에 의해 높은 정밀도의 형광 수명 해석을 실현했습니다. 인광과 같은 긴 수명 성분의 해석에는 디컨볼루션 처리를 실시하지 않는 Tail Fit 기능을 이용할 수도 있습니다.

프로파일 해석

• 시간 분해 스펙트럼 표시
스트릭 시스템의 최대의 특장인 시간 분해 스펙트럼의 표시가 가능합니다.
• 스펙트럼과 형광 감쇠 곡선의 표시가 가능
• 스펙트럼과 형광 감쇠 곡선의 프로파일 정보를 표시
각 프로파일의 반값폭(FWHM), 피크 위치, 피크 강도등의 정보를 표시할 수가 있습니다.
• 복수 데이터의 동일 화면상에의 read와 비교가 가능
노멀라이즈 처리에 의해, 복수 데이터의 비교를 간단하게 실시할 수도 있습니다.

Specifications

System name	Mode-locked Ti-Sapphire laser system
Wavelength range	200 nm to 850 nm, 400 nm to 900 nm
Detector	Czerny-Turner type (with aberration-corrected toroidal mirror) f=300 mm　F4.0
Grating	Three gratings can be installed at one time. (Select from 40 gr/mm to 1200 gr/mm)
Measurement wavelength range	316 nm (Using 40 gr/mm) to 9 nm (Using 1200 gr/mm)
Wavelength resolution	5.1 nm Using (40 gr/mm) to 0.15 nm (Using 1200 gr/mm)
Time axis	1 ns to 10 ms /full scale
Sweep repetition rate	Max. 20 MHz
Temporal resolution (Deconvolution processing)	5 ps

Dimensions