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High resulution X-ray imaging system

High-resolution-X-ray-imaging-system-01. 고해상도 X선 영상 시스템은 입사 한 X선 빔을 형광체로 시각화한 이미징 유닛 M11427 시리즈와 냉각식 디지털 CCD 카메라 등의 고감도 검출기를 조합하여 실시간으로 X선 현상을 이미지화하는 시스템입니다.
카메라는 용도에 따라 감도와 해상도, 전송 속도 등 다채로운 라인업에서 선택이 가능하며, 전용 카메라 장착 모듈에 의해 쉽게 교환 할 수 있습니다.
또한 이미징 장치는 X 선에 의한 검출기의 데미지 감소를 고려한 광학 설계를 실시하고 있기 때문에, 방사광 시설 등의 고출력 X 선 빔을 이용한 영상에도 대응하여 폭 넓은 용도로 사용 수 있습니다.

Features

High-resolution-X-ray-imaging-system-02. · X 선내 디자인
· 고분해능
· 각종 형광체의 교환이 가능
· 낮은 에너지 X선에 대응
· 소형, 경량
· 포커싱시 원격 조정이 가능
· 카메라 교환이 용이

Appications

· X-ray CT
· Phase contrast X-ray CT
· X-ray optics alignment
· X-ray topography
· X-ray microscope
· Angiography
· XAFS

Selection (Imaging unit)

M11427-42 (Standard type)

High-resolution-X-ray-imaging-system-03.

M11427-51, -52, -53 (Small area type)

High-resolution-X-ray-imaging-system-04.

M11427-61 (Large area type)

High-resolution-X-ray-imaging-system-05.

Selection (Camera)

High-resolution-X-ray-imaging-system-06.

Dimensions

High-resolution-X-ray-imaging-system-07.

Specifications

Type number M11427-42 M11427-51 M11427-52 M11427-53 M11427-61
Imaging unit AA40 AA50 AA60
Scintillator diameter 17 mm 10 mm 35 mm
Input window material Beryllium
(0.5 mm)
Beryllium (0.5 mm) / Amorphous carbon (2 mm) Amorphous carbon
(0.5 mm)
Sensitivity range 3 keV or more 3 keV or more 3 keV or more
Scintillator material P43
(Gd2O2S: Tb)
LSO (Lu2SiO5: Ce) P43
(Gd2O2S: Tb)
Peak emission wavelength 540 nm 420 nm 540 nm
Minimum thickness of scintillator 10 μm 10 μm 10 μm
Substlate material of scintillator Quart glass Amorphous carbon plate Quart glass
Resolution * 10 μm 4 μm 2 μm 1 μm 10 μm or more
10 % Decay time 1 ms 40 ns 1 ms
First lens 50 mm (F1.4) 10× (NA 0.3) 20× (NA 0.4) 50× (NA 0.55) 105 mm (F2.4)
Second lens 105 mm,
50 mm, 35 mm
or 16 mm
- 105 mm,
50 mm, 35 mm
or 16 mm
ND filter ND10 / ND1 - ND10 / ND1

* Depending on the camera type