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High resulution X-ray imaging system
고해상도 X선 영상 시스템은 입사 한 X선 빔을 형광체로 시각화한 이미징 유닛 M11427 시리즈와 냉각식 디지털 CCD 카메라 등의 고감도 검출기를 조합하여 실시간으로 X선 현상을 이미지화하는 시스템입니다.
카메라는 용도에 따라 감도와 해상도, 전송 속도 등 다채로운 라인업에서 선택이 가능하며, 전용 카메라 장착 모듈에 의해 쉽게 교환 할 수 있습니다.
또한 이미징 장치는 X 선에 의한 검출기의 데미지 감소를 고려한 광학 설계를 실시하고 있기 때문에, 방사광 시설 등의 고출력 X 선 빔을 이용한 영상에도 대응하여 폭 넓은 용도로 사용 수 있습니다.
Features
· X 선내 디자인
· 고분해능
· 각종 형광체의 교환이 가능
· 낮은 에너지 X선에 대응
· 소형, 경량
· 포커싱시 원격 조정이 가능
· 카메라 교환이 용이
Appications
· X-ray CT
· Phase contrast X-ray CT
· X-ray optics alignment
· X-ray topography
· X-ray microscope
· Angiography
· XAFS
Selection (Imaging unit)
M11427-42 (Standard type)
M11427-51, -52, -53 (Small area type)
M11427-61 (Large area type)
Selection (Camera)
Dimensions
Specifications
Type number | M11427-42 | M11427-51 | M11427-52 | M11427-53 | M11427-61 |
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Imaging unit | AA40 | AA50 | AA60 | ||
Scintillator diameter | 17 mm | 10 mm | 35 mm | ||
Input window material | Beryllium (0.5 mm) |
Beryllium (0.5 mm) / Amorphous carbon (2 mm) | Amorphous carbon (0.5 mm) |
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Sensitivity range | 3 keV or more | 3 keV or more | 3 keV or more | ||
Scintillator material | P43 (Gd2O2S: Tb) |
LSO (Lu2SiO5: Ce) | P43 (Gd2O2S: Tb) |
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Peak emission wavelength | 540 nm | 420 nm | 540 nm | ||
Minimum thickness of scintillator | 10 μm | 10 μm | 10 μm | ||
Substlate material of scintillator | Quart glass | Amorphous carbon plate | Quart glass | ||
Resolution * | 10 μm | 4 μm | 2 μm | 1 μm | 10 μm or more |
10 % Decay time | 1 ms | 40 ns | 1 ms | ||
First lens | 50 mm (F1.4) | 10× (NA 0.3) | 20× (NA 0.4) | 50× (NA 0.55) | 105 mm (F2.4) |
Second lens | 105 mm, 50 mm, 35 mm or 16 mm |
- | 105 mm, 50 mm, 35 mm or 16 mm |
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ND filter | ND10 / ND1 | - | ND10 / ND1 |
* Depending on the camera type